產(chǎn)品時間:2024-08-27
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廠商性質(zhì):代理商
生產(chǎn)地址:
ZX-3/ZX-5/ZX-5DL測厚儀
ZX-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚,比傳統(tǒng)的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便,適用范圍也更廣。
測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度
120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發(fā)生器
增益可調(diào)節(jié)(40-52dB)
增益步進間距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五檔)
手動或自動調(diào)零
低溫型(-30℃)LCD顯示屏
USB-C型通訊接口:輸出數(shù)據(jù)到計算機(僅ZX-5/5DL)
USB轉串口功能,可選RS232或藍牙模塊(僅ZX-5)
IP65防護等級
掃查測量:自動找出被測材料掃查區(qū)域內(nèi)的最薄值
ZX-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚,比傳統(tǒng)的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便,適用范圍也更廣。
測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度
120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發(fā)生器
增益可調(diào)節(jié)(40-52dB)
增益步進間距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五檔)
手動或自動調(diào)零
低溫型(-30℃)LCD顯示屏
USB-C型通訊接口:輸出數(shù)據(jù)到計算機(僅ZX-5/5DL)
USB轉串口功能,可選RS232或藍牙模塊(僅ZX-5)
IP65防護等級
掃查測量:自動找出被測材料掃查區(qū)域內(nèi)的最薄值
ZX-3/ZX-5/ZX-5DL測厚儀
ZX-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚,比傳統(tǒng)的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便,適用范圍也更廣。
測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度
120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發(fā)生器
增益可調(diào)節(jié)(40-52dB)
增益步進間距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五檔)
手動或自動調(diào)零
低溫型(-30℃)LCD顯示屏
USB-C型通訊接口:輸出數(shù)據(jù)到計算機(僅ZX-5/5DL)
USB轉串口功能,可選RS232或藍牙模塊(僅ZX-5)
IP65防護等級
掃查測量:自動找出被測材料掃查區(qū)域內(nèi)的最薄值
型號 | 頻率 | 晶片直徑 | 測量范圍(鋼) | 說明 |
PT-102-2000 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0~152mm | 標準探頭 |
PT-101-2000 | 5.0MHz | φ4.7mm | 1.5~50mm | 小管徑探頭 |
PT-104-0000 | 1.0MHz | φ12.7mm | 3.8~50.8mm(鑄鐵中) | 鑄鐵探頭 |
PT-102-1000 | 2.25MHz | φ6.3mm | 1.5~100mm | 低頻探頭 |
PT-102-3300 | 7.5MHz | φ6.3mm | 0.63~152mm | 超薄探頭 |
PT-104-2000 | 5.0MHz | φ12.7mm | 1.27~500mm | 超厚探頭 |
PT-042-2000 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0~152mm | 高溫探頭,最高℃ |
PT-044-2000 | 5.0MHz | φ12.7mm | 1.27~500mm | 高溫探頭,最高340℃ |
PT-212-2001 | 5.0MHz | φ6.3mm | 1.0~150mm | 高溫探頭,最高482℃ |
PT-214-2001 | 5.0MHz | φ12.7.3mm | 1.27~500mm | 高溫探頭,最高482℃ |
注:用高溫探頭測量高溫表面時必需用配套的高溫耦合劑。
ZX-3/ZX-5/ZX-5DL測厚儀
ZX-3/5/5/DL 采用超聲反射技術可以用單面測量法快速、準確地測量物體的壁厚,比傳統(tǒng)的游標卡尺等壁厚測量方式更快捷方便,適用范圍也更廣。
測量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度
120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發(fā)生器
增益可調(diào)節(jié)(40-52dB)
增益步進間距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五檔)
手動或自動調(diào)零
低溫型(-30℃)LCD顯示屏
USB-C型通訊接口:輸出數(shù)據(jù)到計算機(僅ZX-5/5DL)
USB轉串口功能,可選RS232或藍牙模塊(僅ZX-5)
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